OmniScan ECA渦流陣列探傷儀

渦流陣列技術 
渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據， 可避免不同線圈之間的互感。 

OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優勢 
同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優勢：

• 檢測時間大幅度降低。

• 單次掃查覆蓋更大檢測區域。

• 減小了機械和自動掃查系統的復雜性。

• 提供檢測區域實時圖像，便于數據的判讀。

• *地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。

• 改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。

渦流陣列探頭 
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

OmniScan ECA渦流陣列探傷儀

主要應用： 緊固件表層裂紋檢測

制造商用型和軍用型航天飛機時，要使用成千上萬個緊固件將搭接的鋁制板材連接在一起。下層鋁板上的疲勞裂紋經常會被一層蒙皮隱藏起來。要確保任何航天飛機的完好無損性，在定期的在役檢測過程中，必須探測到這些隱藏的缺陷，并進行修復。

奧林巴斯開發了一項用于對緊固件和近表層裂紋進行檢測的創新型技術，作為航空航天系列解決方案的一部分。這個方案將渦流技術應用到一個尚未探知的領域。這個新技術可顯示飛機一層鋁制蒙皮下裂紋的極為清晰的圖像，可為用戶有效提供可靠的檢測結果。

特性

• 可替代磁光成像（MOI）。

• 32個線圈探頭可覆蓋寬大的范圍。

• 無需去除漆層；簡化了操作過程，節省了大量時間。

• 使用持續模式，掃描圖像可以不間斷地顯示檢測結果。

• 數據記錄功能有助于制作專業性報告。

• 對探頭的放置要求不如滑動式探頭那么嚴格。

• 經過優化后，可以探測商用型和軍用型飛機鋁制板材之間的典型近表層裂紋。